Équipe MaCÉPV - Matériaux pour Composants Électroniques et Photovoltaïques

Caractérisation des matériaux et composants

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Responsable : Jérémy BARTRINGER, Contact

 

Au fil des années, le laboratoire s'est doté d'un ensemble de techniques de caractérisation assez diversifié qui permet de répondre à la plupart des besoins des recherches menées sur les matériaux et composants. Ces techniques peuvent être réparties en trois catégories.

Les méthodes de caractérisation optique englobent les spectroscopies visible et infrarouge, la spectroscopie micro-Raman, la photoluminescence, ainsi que les spectroscopies de réflexion et de transmission. Plusieurs lasers impulsionnels peuvent également être utilisés pour ce genre de caractérisations.

Pour les caractérisations morphologiques et structurelles, le laboratoire dispose, d'un profilomètre, d'un ellipsomètre, d'un microscope à force atomique, ainsi que d'une installation de microscopie optique à sonde de faible cohérence qui constitue en elle-même un projet de recherche.

Enfin, différents types de caractérisations électriques sont possibles grâce à des techniques devenues courantes ou à des montages originaux. On peut notamment citer les caractéristiques courant-tension et capacité-tension et les méthodes dérivées, la méthode des quatre pointes, les mesures de courants thermostimulés ou photo-induits, et la réponse spectrale.

Une activité de services à l’intention d’autres laboratoires ou d’industriels est assurée dans la mesure du possible. La liste des utilisations possibles étant non exhaustive, il est recommandé de nous contacter pour toute application, même non mentionnée, du moment qu'il y a compatibilité avec les caractéristiques techniques des équipements. Les demandes peuvent simplement être adressées par courriel.