« Caractérisations optiques » : différence entre les versions
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Il est également possible de mesurer le photocourant généré par un flux lumineux en fonction de sa longueur d'onde.<br/> |
Il est également possible de mesurer le photocourant généré par un flux lumineux en fonction de sa longueur d'onde.<br/> |
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Ce banc de caractérisation permet d'élargir fortement les possibilités d'analyse des niveaux profonds liés aux défauts des semi-conducteurs.</p></td></tr></table> |
Ce banc de caractérisation permet d'élargir fortement les possibilités d'analyse des niveaux profonds liés aux défauts des semi-conducteurs.</p></td></tr></table> |
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==Caractérisations par laser== |
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===Laser femtoseconde=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:TsunamiRed.jpg|center|200px|Laser femtoseconde et caméra à balayage de fente]]<br/> |
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<p><center><em>Laser femtoseconde et caméra à balayage de fente</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce laser titane-saphir émet des impulsions de 100 fs accordables de 740 nm à 900 mn, à une fréquence de 82 MHz. Il est possible de le doubler à 400 nm.</p></td></tr></table> |
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===Lasers nanoseconde=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:FamosiFibre1Red.jpg|center|200px|Laser YAG avec transmission par fibre optique]]<br/> |
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<p><center><em>Laser YAG avec transmission par fibre optique</em></center></p></td> |
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<td><p>Ces lasers YAG doublés ou triplés émettent des impulsions de 10 ns à une fréquence allant de 1 Hz à 22 kHz, de longueur d'onde de 355 nm ou 532 nm.</p></td></tr></table> |
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===Laser nanoseconde de haute énergie=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:TempsDeVol1Red.jpg|center|200px|Laser Brio pour la mesure des temps de vol]]<br/> |
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<p><center><em>Laser Brio pour la mesure des temps de vol</em></center></p></td> |
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<td><p>Il s'agit d'un laser YAG pouvant émettre à trois longueurs d'onde à une fréquence de 10 Hz. L'énergie des impulsions est de 34 mJ à 355 nm, 60 mJ à 532 nm et 110 mJ à 1064 nm.</p></td></tr></table> |
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===Laser de découpe=== |
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<table border="0" cellpadding="5" cellspacing="1" style="width: 100%;"> |
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<tr><td width="40%">[[Image:LaserDecoupeRed.jpg|center|200px|Découpe laser de plaquettes de silicium]]<br/> |
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<p><center><em>Découpe laser de plaquettes de silicium</em></center></p></td> |
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<td><p>Nous disposons d'un laser YAG qui permet de graver puis cliver des plaquettes de matériaux semi-conducteurs.</p></td></tr></table> |
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===Recuit par laser=== |
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<table border="0" cellpadding="5" cellspacing="1" style="width: 100%;"> |
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<tr><td width="40%">[[Image:LaserRecuit1Red2.jpg|center|200px|Banc de recuit par laser à excimère]]<br/> |
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<p><center><em>Banc de recuit par laser à excimère</em></center></p></td> |
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<td><p>Le laboratoire dispose d'un banc de recuit par laser, en phase de conception et d'automatisation.</p></td></tr></table> |
Dernière version du 9 septembre 2013 à 08:20
Responsable : Jérémy BARTRINGER, Contact
Le laboratoire est équipé pour procéder à diverses caractérisations optiques des matériaux et composants :
- caractérisations spectroscopiques
- caractérisations par laser
Une activité de services à l’intention d’autres laboratoires ou d’industriels est assurée dans la mesure du possible. La liste des utilisations possibles étant non exhaustive, il est recommandé de nous contacter pour toute application, même non mentionnée, du moment qu'il y a compatibilité avec les caractéristiques techniques des équipements. Les demandes peuvent simplement être adressées par courriel.
Caractérisations spectroscopiques
Photoluminescence
Ce banc de mesure de photoluminescence sous excitation laser (355 nm ou 532 nm) est automatisé et piloté par Labview. L'échantillon peut-être maintenu à basse température (de 20K à 350K) et la détection se fait de 400 nm à 2200 nm. |
Durée de vie de fluorescence
Un spectrofluorimètre permet de mesurer des spectres d'excitation et d'émission de fluorescence. Nous pouvons également ajouter des dispositifs supplémentaires pour mesurer la durée de vie de fluorescence.
Spectromètre Raman
Cet instrument permet d'enregistrer les spectres Raman d'échantillons placés sous microscope. Le laser d'excitation a une longueur d'onde de 633 nm et un diamètre de 10 µm. |
Spectromètre UV-VIS-NIR
Cet instrument permet d'enregistrer les spectres de réflexion et de transmission d'échantillons solides ou liquides, et d'en déduire leur spectre d'absorption. |
Spectroscopie à transformée de Fourier (FTIR)
Ce spectromètre infrarouge à transformée de Fourier permet d'enregistrer les spectres de transmission d'échantillons solides ou liquides, puis d'en déduire leur spectre d'absorption. |
Caractérisation sous flux lumineux calibré
Ce banc de caractérisation, initialement développé pour caractériser la réponse spectrale de capteurs CMOS de type FAMOSI (FAst MOS Imager), permet de soumettre un échantillon à un flux lumineux calibré, contrôlé en temps réel au moyen d'un programme écrit en Labview. L'excitation est monochromatique de 400 à 1000 nm sur une surface de 1 cm2. |
Rendement quantique externe
Ce banc de caractérisation permet de mesurer le rendement quantique externe (EQE) de cellules photovoltaïques. |
Photocapacitance et photocourant
Ce banc de caractérisation entièrement automatisé permet de mesurer la relaxation de capacité en fonction du temps et de la longueur d'onde d'excitation d'une diode, éventuellement polarisée, maintenue à basse température (15 à 300K). Les différents paramètres sont gérés et pilotés au moyen d'un programme Labview. Il est également possible de mesurer le photocourant généré par un flux lumineux en fonction de sa longueur d'onde. |
Caractérisations par laser
Laser femtoseconde
Ce laser titane-saphir émet des impulsions de 100 fs accordables de 740 nm à 900 mn, à une fréquence de 82 MHz. Il est possible de le doubler à 400 nm. |
Lasers nanoseconde
Ces lasers YAG doublés ou triplés émettent des impulsions de 10 ns à une fréquence allant de 1 Hz à 22 kHz, de longueur d'onde de 355 nm ou 532 nm. |
Laser nanoseconde de haute énergie
Il s'agit d'un laser YAG pouvant émettre à trois longueurs d'onde à une fréquence de 10 Hz. L'énergie des impulsions est de 34 mJ à 355 nm, 60 mJ à 532 nm et 110 mJ à 1064 nm. |
Laser de découpe
Nous disposons d'un laser YAG qui permet de graver puis cliver des plaquettes de matériaux semi-conducteurs. |
Recuit par laser
Le laboratoire dispose d'un banc de recuit par laser, en phase de conception et d'automatisation. |