« Caractérisations optiques » : différence entre les versions
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<tr><td width="40%">[[Image:PL2Red.jpg|center|150px|Photoluminescence à basse température (cryostat à hélium)]]<br/> |
<tr><td width="40%">[[Image:PL2Red.jpg|center|150px|Photoluminescence à basse température (cryostat à hélium)]]<br/> |
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<p>Photoluminescence à basse température (cryostat à hélium)</p></td> |
<p><center><em>Photoluminescence à basse température (cryostat à hélium)</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce banc de mesure de photoluminescence sous excitation laser (355 nm ou 532 nm) est automatisé et piloté par Labview. L'échantillon peut-être maintenu à basse température (de 20K à 350K) et la détection se fait de 400 nm à 2200 nm.</p></td></tr></table> |
<td><p>Ce banc de mesure de photoluminescence sous excitation laser (355 nm ou 532 nm) est automatisé et piloté par Labview. L'échantillon peut-être maintenu à basse température (de 20K à 350K) et la détection se fait de 400 nm à 2200 nm.</p></td></tr></table> |
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===Durée de vie de fluorescence=== |
===Durée de vie de fluorescence=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:RamanJeremy1Red.jpg|center|200px|Spectromètre Raman - Mesure d’émission micro-Raman]]<br/> |
<tr><td width="40%">[[Image:RamanJeremy1Red.jpg|center|200px|Spectromètre Raman - Mesure d’émission micro-Raman]]<br/> |
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<p>Spectromètre Raman - Mesure d’émission micro-Raman</p></td> |
<p><center><em>Spectromètre Raman - Mesure d’émission micro-Raman</em></center></p></td> |
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<td><p>Cet instrument permet d'enregistrer les spectres Raman d'échantillons placés sous microscope. Le laser d'excitation a une longueur d'onde de 633 nm et un diamètre de 10 µm.</p></td></tr></table> |
<td><p>Cet instrument permet d'enregistrer les spectres Raman d'échantillons placés sous microscope. Le laser d'excitation a une longueur d'onde de 633 nm et un diamètre de 10 µm.</p></td></tr></table> |
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===Spectromètre UV-VIS-NIR=== |
===Spectromètre UV-VIS-NIR=== |
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<tr><td width="40%">[[SpectrometreRed.jpg|center|200px|Spectromètre UV VIS NIR - Lambda 19]]<br/> |
<tr><td width="40%">[[Image:SpectrometreRed.jpg|center|200px|Spectromètre UV VIS NIR - Lambda 19]]<br/> |
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<p>Spectromètre UV VIS NIR - Lambda 19</p></td> |
<p><center><em>Spectromètre UV VIS NIR - Lambda 19</em></center></p></td> |
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<td><p>Cet instrument permet d'enregistrer les spectres de réflexion et de transmission d'échantillons solides ou liquides, et d'en déduire leur spectre d'absorption.</p></td></tr></table> |
<td><p>Cet instrument permet d'enregistrer les spectres de réflexion et de transmission d'échantillons solides ou liquides, et d'en déduire leur spectre d'absorption.</p></td></tr></table> |
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===Spectroscopie à transformée de Fourier (FTIR)=== |
===Spectroscopie à transformée de Fourier (FTIR)=== |
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<tr><td width="40%">[[FTIRred.jpg|center|200px|FTIR - Spectroscopie à transformée de Fourier]]<br/> |
<tr><td width="40%">[[Image:FTIRred.jpg|center|200px|FTIR - Spectroscopie à transformée de Fourier]]<br/> |
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<p>FTIR - Spectroscopie à transformée de Fourier</p></td> |
<p><center><em>FTIR - Spectroscopie à transformée de Fourier</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce spectromètre infrarouge à transformée de Fourier permet d'enregistrer les spectres de transmission d'échantillons solides ou liquides, puis d'en déduire leur spectre d'absorption.</p></td></tr></table> |
<td><p>Ce spectromètre infrarouge à transformée de Fourier permet d'enregistrer les spectres de transmission d'échantillons solides ou liquides, puis d'en déduire leur spectre d'absorption.</p></td></tr></table> |
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===Caractérisation sous flux lumineux calibré=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:MonochromateurRed.jpg|center|200px|Monochromateur Bentham avec sphère intégrante]]<br/> |
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<p><center><em>Monochromateur Bentham avec sphère intégrante</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce banc de caractérisation, initialement développé pour caractériser la réponse spectrale de capteurs CMOS de type FAMOSI (FAst MOS Imager), permet de soumettre un échantillon à un flux lumineux calibré, contrôlé en temps réel au moyen d'un programme écrit en Labview. L'excitation est monochromatique de 400 à 1000 nm sur une surface de 1 cm<sup>2</sup>.</p></td></tr></table> |
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===Rendement quantique externe=== |
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<tr><td width="40%">[[Image:ReponseSpectraleRed.jpg|center|150px|Caractérisation spectrale des cellules photovoltaïques]]<br/> |
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<p><center><em>Caractérisation spectrale des cellules photovoltaïques</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce banc de caractérisation permet de mesurer le rendement quantique externe (EQE) de cellules photovoltaïques.</p></td></tr></table> |
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===Photocapacitance et photocourant=== |
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<table border="0" cellpadding="5" cellspacing="1" style="width: 100%;"> |
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<tr><td width="40%">[[Image:PhotocapacitanceRed.jpg|center|200px|Photocapacitance pilotée par Labview]]<br/> |
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<p><center><em>Photocapacitance pilotée par Labview</em></center></p></td> |
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<td><p>Ce banc de caractérisation entièrement automatisé permet de mesurer la relaxation de capacité en fonction du temps et de la longueur d'onde d'excitation d'une diode, éventuellement polarisée, maintenue à basse température (15 à 300K). Les différents paramètres sont gérés et pilotés au moyen d'un programme Labview.<br/> |
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Il est également possible de mesurer le photocourant généré par un flux lumineux en fonction de sa longueur d'onde.<br/> |
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Ce banc de caractérisation permet d'élargir fortement les possibilités d'analyse des niveaux profonds liés aux défauts des semi-conducteurs.</p></td></tr></table> |
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Version du 6 septembre 2013 à 07:58
Responsable : Jérémy BARTRINGER, Contact
Le laboratoire est équipé pour procéder à diverses caractérisations optiques des matériaux et composants :
- caractérisations spectroscopiques
- caractérisations par laser
Une activité de services à l’intention d’autres laboratoires ou d’industriels est assurée dans la mesure du possible. La liste des utilisations possibles étant non exhaustive, il est recommandé de nous contacter pour toute application, même non mentionnée, du moment qu'il y a compatibilité avec les caractéristiques techniques des équipements. Les demandes peuvent simplement être adressées par courriel.
Caractérisations spectroscopiques
Photoluminescence
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Ce banc de mesure de photoluminescence sous excitation laser (355 nm ou 532 nm) est automatisé et piloté par Labview. L'échantillon peut-être maintenu à basse température (de 20K à 350K) et la détection se fait de 400 nm à 2200 nm. |
Durée de vie de fluorescence
Un spectrofluorimètre permet de mesurer des spectres d'excitation et d'émission de fluorescence. Nous pouvons également ajouter des dispositifs supplémentaires pour mesurer la durée de vie de fluorescence.
Spectromètre Raman
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Cet instrument permet d'enregistrer les spectres Raman d'échantillons placés sous microscope. Le laser d'excitation a une longueur d'onde de 633 nm et un diamètre de 10 µm. |
Spectromètre UV-VIS-NIR
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Cet instrument permet d'enregistrer les spectres de réflexion et de transmission d'échantillons solides ou liquides, et d'en déduire leur spectre d'absorption. |
Spectroscopie à transformée de Fourier (FTIR)
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Ce spectromètre infrarouge à transformée de Fourier permet d'enregistrer les spectres de transmission d'échantillons solides ou liquides, puis d'en déduire leur spectre d'absorption. |
Caractérisation sous flux lumineux calibré
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Ce banc de caractérisation, initialement développé pour caractériser la réponse spectrale de capteurs CMOS de type FAMOSI (FAst MOS Imager), permet de soumettre un échantillon à un flux lumineux calibré, contrôlé en temps réel au moyen d'un programme écrit en Labview. L'excitation est monochromatique de 400 à 1000 nm sur une surface de 1 cm2. |
Rendement quantique externe
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Ce banc de caractérisation permet de mesurer le rendement quantique externe (EQE) de cellules photovoltaïques. |
Photocapacitance et photocourant
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Ce banc de caractérisation entièrement automatisé permet de mesurer la relaxation de capacité en fonction du temps et de la longueur d'onde d'excitation d'une diode, éventuellement polarisée, maintenue à basse température (15 à 300K). Les différents paramètres sont gérés et pilotés au moyen d'un programme Labview. Il est également possible de mesurer le photocourant généré par un flux lumineux en fonction de sa longueur d'onde. |